薄膜电容当今已经被大家熟知和应用，因为其具有许多优良的特性，所以应用范围越来越广。不过，薄膜电容使用的时候也难免有一定的损耗，下面就让我们一起看看薄膜电容的金属损耗有哪些。
薄膜电容的金属损耗一、极板电阻引起的损耗。
金属化薄膜电容器极板串联电阻的大小理论上和极板长度、宽度、镀层厚度、留边的宽度有关。它与极板长度、镀层厚度成反比，与极板宽度、留边宽度成正比。所以在设计时，在其它条件允许的条件下，减小金属化膜料的方阻（即增加镀层厚度），减小极板宽度、留边的宽度是降低金属化薄膜电容器极板电阻引起的损耗的途径。
二、接触电阻引起的损耗
它主要有两部分组成，一是喷金料与电容器芯子端面的接触损耗，主要受到喷金料本身材质的影响，与金属层同等或相近成分的喷金料，能够更好的与金属层相互渗入，从而减小接触损耗。二是引出线与喷金层的接触损耗。引出线既要和喷金层有牢固的接触，又不能过度接触而造成芯子端面的损伤。
三、引出线的损耗
金属化薄膜电容器在工作时，引出线的等效电阻R是很小的，损耗功率也很小，其tgδ微乎其微，可以忽略不计。虽然如此，为了把引出线的损耗影响做到小，也有一些厂商用镀锡铜线代替传统的镀锡铜包钢线。根据电阻定律R=pL/S，ρ铜小于ρ铁。在L（引出线长）一定的情况下，铜线的等效电阻比CP线要小。
