塑料薄膜的厚度，一般是指在一定条件下测得的试样的界面距离。鉴定标准只适用于光面、未经压花的薄膜。厚度测定的目的是为了弄清薄膜厚度的差异。对于薄膜厚度的准确测量，取决于使用什么样的厚度传感器。下面我们一起了解一下，薄膜厚度的检测技术有哪些。



一、薄膜厚度的检测技术有哪些

1、红外探头

红外探头，就是利用特定红外线波段在特定的塑料薄膜中被强烈吸收的原理测量薄膜的厚度。该传感器检测稳定，不受坏境变化影响，但对添加剂及颜色的变化敏感，在同一生产线上要生产多种产品不能适应。

2、贝它探头

贝它探头是最早用于薄膜检测的传感器，使用贝它放射源作为信号源，技术成熟。但是需要办理放射源使用许可证，进出口手续比较复杂。有半衰期的使用年限限制，且检测精度会随着放射源的衰减而降低。

3、X线探头

X线探头是利用X线管通电产生X线作为信号源来检测塑料薄膜的厚度。有诸多优点：飞放射性物质；低能量无需使用许可证；测量范围广；测量精度高；各种塑料都可测量，不受添加剂和色母料的影响。

二、薄膜均匀性取决于什么

1、生产线工艺状况及设备自身的稳定性。这取决于组成生产线的各主要部件的品质和给部分是否准确配合、协调运行，以及是否合适的生产工艺条件。

2、对薄膜厚度准确的检测。只有准确的检测，才能真实的反应实际厚度的变化。

3、准确，有效，稳定的剖面调节控制。薄膜从模头流出到现成的薄膜过程中会有一定的拉伸，螺栓的位置会发生变化，特别是对于双向拉伸薄膜，怎样把拉伸后的薄膜区域准确地对应到相应的模头螺栓并进行有效的调节特别重要。

随着薄膜生产线技术的不断提高，生产线的速度都越来越快、产品的幅度也越来越宽，对厚度均匀性调控的要求也越来越高，手动调整螺栓的速度，准确度无法满足生产要求。配置螺栓控制系统最重要的目的是要把测量的厚度剖面面准确对应到模头螺栓的位置上。