产品详情
一、产品简介
KJ-SR 系列反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏 ITO 等镀膜厚度，PET 柔性涂布的胶厚等厚度，LED 镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。可用于测量 2 纳米到 3000 微米的膜厚，测量精度达到 0.1 纳米。 在折射率未知的情况下， 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外， 用于精确测量样品的颜色和反射率。样品光斑在 1 毫米以内。
KJ-SR 进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于 1 秒。配合我们的 Apris SpectraSys 软件进行手动测量，每次测量时间低于 5 秒。Apris SpectraSys 支持 50 层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的 材料数据库，同时可对折射率进行拟合。
同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。
二、应用领域
半导体镀膜 , 光刻胶；蓝宝石镀膜，光刻胶；太阳能镀膜剥离；卷对卷柔性涂布；车灯镀膜厚度；阳极氧化厚度；玻璃减反膜测量；ITO玻璃；各种衬底上的膜厚；PET镀层厚度等等
